Különbség az AFM és az STM között A különbség
AFM az Atomic Force mikroszkópra utal, és az STM a pásztázó alagút mikroszkópra utal. E két mikroszkóp fejlődését atomi és molekuláris területek forradalmának tekintik.
AFM-ről beszélve pontos képeket rögzít egy nanometrikus méretű csúcs mozgatásával a kép felszínén. Az STM a kvantum alagút használatával rögzíti a képeket.
A két mikroszkóp közül elsőként a pásztázó alagút mikroszkóp volt.
Az STM-vel ellentétben a szonda közvetlenül érintkezik a felületével vagy kiszámítja az AFM-ben levő kezdeti kémiai kötést. Az STM képek közvetett módon kiszámítva a kvantummélység alagútját a szonda és a minta között.
Egy másik különbség látható, hogy az AFM csúcsa érintetlenül érinti a felszíni felületet, míg az STM-ben a hegyet a felülettől rövid távolságra tartják.
Az STM-vel ellentétben az AFM nem méri az alagút áramát, hanem csak a felszíni és a csúcs közötti kis erőt méri.
Azt is láttuk, hogy az AFM felbontása jobb, mint az STM. Ezért használják az AFM-t széles körben a nanotechnológiában. Az erő és a távolság közötti függésről beszélve az AFM összetettebb, mint az STM.
Amikor a pásztázó alagút mikroszkóp általában a vezetőkre vonatkozik, az Atomic Force mikroszkóp mindkét vezetékre és szigetelőre alkalmazható. Az AFM jól illeszkedik a folyadék- és gázkörnyezethez, míg az STM csak nagy vákuumban működik.
Az STM-hez képest az AFM jobban topografikus kontrasztú közvetlen magasságmérést és jobb felületi tulajdonságokat biztosít.
Összefoglalás
1. Az AFM rögzíti a pontos képeket úgy, hogy a kép felszínén nanometrikus méretű csúcsot mozgat. Az STM a kvantum alagút használatával rögzíti a képeket.
2. A szonda közvetlenül érintkezik a felületével, vagy kiszámítja az AFM kezdeti kémiai kötését. Az STM képek közvetett módon kiszámítva a kvantummélység alagútját a szonda és a minta között.
3. Az AFM csúcsa érinti a felületet finoman a felülethez, míg az STM-ben a hegyet a felülettől rövid távolságra tartják.
4. Az AFM felbontása jobb, mint az STM. Ezért használják az AFM-t széles körben a nanotechnológiában.
5. Amikor a pásztázó alagút mikroszkóp általában a vezetőkre vonatkozik, az Atomic Force mikroszkóp mindkét vezetékre és szigetelőre alkalmazható.
6. Az AFM jól illeszkedik a folyadék- és gázkörnyezethez, míg az STM csak nagy vákuumban működik.
7. A két mikroszkóp közül elsőként a pásztázó alagút mikroszkóp volt.
