Különbség TEM és SEM között A különbség

TEM vs SEM < Mind a SEM (pásztázó elektronmikroszkóp / mikroszkópia), mind a TEM (transzmissziós elektronmikroszkóp / mikroszkópia) mind az elektronmikroszkópos készülékre, mind az alkalmazott módszerre vonatkozik.

A kettő között sokféle hasonlóság létezik. Mindkettő az elektronmikroszkóp típusai, és lehetővé teszi a kis, szubatomos részecskék vagy a minták kompozícióinak látását, tanulmányozását és vizsgálatát. Mindkettő elektronokat is használ (különösen az elektronsugarakat), egy atom negatív töltését. Továbbá a használatban lévő két mintadarabot "el kell festeni" vagy egy bizonyos elemhez kell keverni a képalkotáshoz. Az ezekből az eszközökből készített képek nagymértékben nagyították és nagy felbontásúak.

Mindazonáltal a SEM és a TEM is különbséget tesz. A SEM-ben alkalmazott módszer szétszórt elektronokon alapul, míg a TEM a továbbított elektronokon alapul. A szétszórt elektronok a SEM-ben visszavetett vagy szekunder elektronok. A TEM-ban azonban nincs más elektronosztály.

A szétszórt elektronok SEM-ben termelték a minta képét, miután a mikroszkóp összegyűjti és számolja a szétszórt elektronokat. A TEM-ban az elektronok közvetlenül a minta felé mutatnak. A minta átmegy az elektronok, amelyek a képen megvilágított részek.

Az elemzés fókusza is eltérő. A SEM a minta felületére és összetételére összpontosít. Másrészt a TEM azt kívánja megtudni, hogy mi van a felületen belül vagy kívül. Az SEM szintén mutatja a minta bitjét bitenként, míg a TEM a mintát egészében mutatja. A SEM háromdimenziós képet is nyújt, míg a TEM kétdimenziós képet nyújt.

A nagyítás és felbontás szempontjából a TEM előnye a SEM-hez képest. A TEM akár 50 millió nagyítási szintet is képes elérni, míg a SEM csak 2 millió értéket kínál a maximális nagyítás mértékének. A TEM felbontása 0, 5 angstrom, míg a SEM értéke 0,4 nm. Azonban a SEM képek jobb mélységélességgel rendelkeznek, mint a TEM által készített képek.

A különbség másik pontja a minta vastagsága, "festés" és a készítmények. A TEM minta vékonyabb, mint egy SEM minta. Ezenkívül egy SEM minta "festett" egy olyan elem által, amely a szétszórt elektronokat rögzíti.

SEM-ben a mintát speciális alumínium csonkokra készítik, és a műszer kamrájának aljára helyezzük. A minta képét a CRT vagy a televízióhoz hasonló képernyőre vetítik.

Másrészt a TEM előírja, hogy a mintát TEM-rácson készítsék el, és a mikroszkóp speciális kamrájának közepére helyezzük. A képet a mikroszkóp segítségével fluoreszkáló képernyőkön állítják elő.

A SEM egyik másik jellemzője, hogy a minta elhelyezése különböző szögben elforgatható.

A TEM-et korábban fejlesztették ki, mint a SEM. A TEM-et 1931-ben Max Knoll és Ernst Ruska találta fel. Eközben a SEM-et 1942-ben hozták létre. Ezt később fejlesztették ki a gép szkennelési folyamatának összetettsége miatt.

Összefoglaló:

1. Mind a SEM, mind a TEM kétféle elektronmikroszkóp, és eszközök a kis minták megtekintésére és vizsgálatára. Mindkét eszköz elektront vagy elektronsugarat használ. A két eszközben készített képek nagymértékben nagyították és nagy felbontást kínálnak.

2. Az egyes mikroszkópok működése nagyon különböző a másiktól. Az SEM beolvassa a minta felületét azáltal, hogy felszabadítja az elektronokat, és az elektront visszaverődik vagy szétszórja az ütközéskor. A gép összegyűjti a szétszórt elektronokat és képeket hoz létre. A kép megjelenik egy televíziós képernyőn. Másrészről, a TEM feldolgozza a mintát az elektronsugárnak a mintán keresztüli irányításával. Az eredmény fluoreszcens szűrő alkalmazásával történik.

3. A képek szintén különböznek a két eszköz között. A SEM képek háromdimenziósak és pontos ábrázolások, míg a TEM képek kétdimenziósak és kicsit értelmezhetők. A felbontás és a nagyítás szempontjából a TEM több előnyhöz jut a SEM-hez képest.